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外延片测温仪是一种专门用于测量半导体外延片在生长或加工过程中温度的高精度仪器。外延片是在半导体衬底上生长的一层或多层具有特定电学或光学性质的半导体材料，其生长温度对材料质量和器件性能有重要影响。因此，外延片测温仪在半导体制造、材料研究等领域具有关键作用。
外延片测温仪的工作原理主要基于非接触式测温技术，如红外测温、光学高温计等。这些技术通过测量目标物体（外延片）发出的热辐射来确定其温度。
红外测温：
利用红外探测器接收外延片发出的红外辐射，通过黑体辐射定律计算温度。
优点：响应速度快、测量范围广、不接触被测物体。
光学高温计：
通过测量外延片发出的可见光或近红外光的亮度，结合普朗克辐射定律计算温度。
适用于高温测量，精度较高。
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http://www.irtech.cn/Products-34373811.html
https://www.chem17.com/st433306/erlist_2077762.html
