请和测试部联系，根据样品难以程度和耗时等因素确认价格。

仪器名称：S4800场发射扫描电子显微镜

加速电压15kV下，二次电子分辨率1nm；加速电压1kV下（减速模式），二次电子分辨率1.4nm； 　　材料的显微结构，微区成分分析，低加速电压可直接观察不导电试样。

主要功能及应用范围：

扫描电镜具有高景深、高分辨率、高放大倍数，且操作简便、样品制备简单等特点。可用于直接观察样品表面形貌。广泛应用于材料科学、生物医学、物理、化学、地质、机械加工、微电路质量检验、失效分析等领域。

仪器名称： FEI Tecnai G2 F20场发射透射电子显微镜

仪器参数：

加速电压：200kV

高分辨极靴 (S-TWIN)

点分辨率：0.24nm；

线分辨率：0.14nmSTEM (HAADF)

分辨率：0.19nm

电子束能量色散：<0.7eV最大束流：>100nA；

1nm束斑最大束流：>0.5nAEELS (Gatan Enfina)

能量分辨率：0.7eV

EDAX能谱仪 (EDS)：5B~92U

主要功能及应用范围：

可实现材料微观组织形貌、晶体结构和微区成分的同位分析。样品类型包括金属材料、金属基复合材料和陶瓷及陶瓷基复合材料的薄膜样品，以及各种形状的纳米材料等。可广泛应用于材料科学、物理、化学、地质诸多研究领域。

仪器型号：LABRAM XPLORA

仪器参数：激发波长532nm-638nm主要功能及应用范围：

1. 可用于材料鉴定、组成分析乃至材料的异构体区分：

2. 接受多种形状的样品（如瓶装、小玻璃瓶装、核磁管装、片剂、膜剂等）。