薄膜测厚仪使用特征

薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格执行机械接触式测厚相关标准要求，专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度J确测量。本品采用G精度的位移传感器，通过科学的结构设计及高精测控控制技术，实现了接触式厚度测试的稳定性、重复性。

产品特征：
1、7寸大触控屏，专业测控软件支持；
2、多种数值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断；
3、具有业内超高重复性与测试精度，G精度高重复性；
4、零点、量块同一点多次连续测试的重复性；
5、具有手动、自动测试功能；
6、可单点、多点（5点）校验，使仪器有不同测量区间均表现出超G精度；
7、支持多级用户权限管理，测试数据历史记录可查询。

更多产品信息来源：http://www.qkrd17.com/Products-37456063.html
https://www.chem17.com/st517063/product_37456063.html