半导体共面性测量设备

共面性指表面组装元器件引脚垂直高度偏差，即引脚的高脚底所成水平面与引脚的脚底形成的水平面之间的垂直距离。PZ-332C半导体共面性测量设备龙门结构美观大方，操作简便，结合本公司自主研发的测量软件，可实现准确的元器件共面性、工件外形尺寸等测量，性价比高、拓展性强、功能全面、可满足各种常规测量需求。  

产品特点：  

具有快速对焦、自动寻边、强大的编程和自动测量功能  

采用亚像素细分技术，提高图像边界分辨能力  

操纵杆/鼠标操作，方便易用  

程控恒流驱动式八区表面冷光源，可适应复杂的工件测量  

激光指示器指示测量位置，方便快速定位  

在线SPC数据处理分析，大批量治具测量功能  

三轴伺服控制，定位精度高速度快，XY速度可达300mm/s，运行平稳  

自主开发的嵌入式模块控制系统，将复杂的控制系统集成在仪器内部，稳定性更高  

采用花岗石底座，性能稳定，不易变形

北京品智创思精密仪器有限公司(以下简称品智创思)，始终专注于精密影像测量领域的影像分析及测量软件的设计与研发。品智创思公司从事表面科学、分析仪器、计量检测设备及实验室仪器系统集成商;致力于为工业制造和科研领域用户提供显微分析，图像分析，缺陷识别和检验, 无损探查, 品质管理, 计量，过程控制等专业检测设备，依托强有力的技术资源及完善专业的售后服务与维修体系，向用户提供专业成熟细致的服务及全面地解决方案。    

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