西努 镜片反射率测定仪

　　USPM-RUⅢ镜片反射率测定仪的特点：
1、消除背面反射光
采用特殊光学系，消除背面反射光。不必进行背面的防反射处理，可正确测定表面的反射率。
2、可测定微小领域的反射率
用对物镜对焦于小区域（φ60μm），可测定镜片曲面以及镀膜层斑点。
3、测定时间短
使用Flat Field Grating（平面光栅）和线传感器的高速分光测定，可迅速实现再现性很高的测定。
4、XY色度图、L*a*b测定可能
以分光测定法为基准，从分光反射率情况可测定物体颜色。
5、可测定的Hard Coat（高强度镀膜）膜厚
用于涉光分光法，可以不接触、不破坏地测定被测物的膜厚（单层膜）。
USPM-RUⅢ镜片反射率测定仪主要用途：
1、各种透镜（眼镜透镜、光读取透镜等）
2、反射镜、棱镜以及其他镀膜部品等的分光反射率、膜厚测定（单层膜）
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