STEM透射电镜

Thermo ScientificTM TalosTM F200X STEM透射电镜提供快速、准确的纳米材料多尺度表征，配备多种创新功能以提高效率、精度与易用性，是学术、政府和工业等领域进行高级研究与分析的理想选择。

高分辨率成像，获取更高质量的数据

Thermo ScientificTM TalosTM F200X STEM透射电镜参数：

X-FEG 亮度       1.8 × 109 A/cm2 srad(@200 kV)
总电子束电流     > 50 nA
探针电流       1.5 nA @ 1 nm 束斑 (200 kV)
Super-X EDS 系统    采用对称设计的 SDD 能谱探头，无窗设计，遮板保护
能量分辨率  ≤ 136 eV Mn-Kα @10 kcps(输出)
快速 EDS 面分析    像素驻留时间短至 10 μs
STEM HAADF 分辨率  0.16 nm
EDX 立体角 0.9 srad
TEM 信息分辨率 0.12 nm
大衍射角度 24 ?
双倾样品杆的大倾斜角度 ±35° α 倾角 /±30° β 倾角
样品台大倾斜角度 ±90 

 
更多信息：STEM透射电镜

http://www.opton17.com/SonList-2222266.html
https://www.chem17.com/st439186/product_34291758.html