蔡司电子显微镜

卡尔蔡司电子显微镜SEM  
ZEISSSigma系列产品  
用于高品质成像与高级分析的蔡司场发射扫描电子显微镜  
灵活的探测，4步工作流程，高级的分析性能  
将高级的分析性能与场发射扫描技术相结合，利用成熟的Gemini电子光学元件。多种探测器可选：用于颗粒、表面或者纳米结构成像。Sigma半自动的4步工作流程节省大量的时间：设置成像与分析步骤，提高效率。  
Sigma300性价比高。Sigma500装配有的背散射几何探测器，可快速方便地实现基础分析。任何时间，任何样品均可获得精准可重复的分析结果。  
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灵活的检测器选项，获取清晰图像  
使用新颖的ETSE和Inlens探测器在高真空下获取高分辨率表面形貌信息。  
使用VPSE或C2D检测器在可变压力模式下获得清晰图像。  
使用aSTEM检测器生成高分辨率透射图像。  
使用HDBSD或YAG检测器分析成分。  
用户友好,操作简单  
SmartSEMTouch是现已有操作系统的附加组件，用于多用户环境，是一种简洁的用户界面。  
它同时为操作经验丰富的专家用户和初级用户提供了简便的操作。  
基于实际的实验室环境，SEM的操作可能是电子显微镜专家的专属领域。
http://www.chxwcx.com/SonList-2427586.html 
https://www.chem17.com/st207575/product_37542668.html