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XAFS测试

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所在地: 上海
有效期至: 长期有效
最后更新: 2024-12-09 11:52
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公司基本资料信息
 
 
产品详细说明
长久以来,X射线吸收精细结构谱(XAFS)只能在各个同步辐射光源上测试。由于光源机时有限,无法满足众多科研工作者的测试需求。而近些年,XAFS数据已成为了顶级期刊的“标配",致使越来越多课题组需要XAFS测试。
RapidXAFS具有如下特点:
*高光通量产品
光子通量高于1000000光子/秒/eV-2000000光子/秒/eV,采谱效率数倍于其他产品;获得和同步辐射一样的数据质量
优异的稳定性
光源单色光强度稳定性优于0.1%,重复采集能量漂移<50 meV
1%探测极限
高光通量、优异的光路优化和较好的光源稳定性确保所测元素含量>1%时依旧获得高质量EXAFS数据
仪器原理
X射线吸收精细结构(X-ray absorption fine structure,XAFS),是一种研究材料局域原子或电子结构的有力工具,广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域。
更多访问:
http://www.rapid-xas.cn/Products-38302818.html