镀层测厚仪

镀层测厚仪，也被称为覆层测厚仪，是一种用于测量涂层或镀层厚度的设备。
镀层测厚仪的工作原理主要有以下几种：
磁性测厚法：
利用永9磁铁（测头）与导磁钢材之间的吸力大小与距离成一定比例关系的原理进行测厚。
适用于钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层厚度的测量，如漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。
覆层越厚，磁阻越大，磁通越小。通过测量磁阻或磁通的变化，可以计算出覆层的厚度。
涡流测厚法：
利用高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，当测头靠近导体时，在导体中形成涡流，涡流大小与测头离导电基体的距离成反比。
适用于铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等非导电覆层厚度的测量。
通过测量涡流的变化，可以计算出覆层的厚度。
X射线测厚法：
将X射线照射在样品上，通过测量从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度。
测量的分辨率高、精度高，且不会对样品造成损坏。
可测极薄镀层、双镀层、合金镀层，测量范围较小，属于无接触无损测量。
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