镀层测厚仪　

镀层测厚仪是一款全新开发研制的集RoHS指令/卤素指令/八大重金属指令一体的全自动化X荧光光谱仪。集准确、快速、无损、直观及环保五大特点，采用分析仪器行业的极速探测器技术（SDD）可将测试时间降低到1秒。采用德国专业技术，可实现图像联动控制，多点连续测试。新增加电动开发的样品腔使操作更加方便，全新设计自动样品平台让准确检测得到保证。
镀层测厚仪产品特点：
1、操作界面简单，测量方便，快捷
2、无损检测，在无标准样品时亦可准确分析
3、采用127±5eV的高精度分辨率，保证数据测量的精度。
4、能够检测卤族元素的精确含量
5、同置高清晰摄像头，可帮助客户判断测量的部位
6、电制冷型的X光管配合光管保养程序，散热更好，并能有效的延长X光管的寿命
7、外观高贵大方，加大仪器内部空间，仪器内部通风性优，并有效屏蔽电磁干扰
8、采用*双峰位快速自动校准。
9、自动谱线识别、多元素同时定性定量分析、让用户方便认识分析样品的组成
10、的定量分析算法，包含FP法、检量线法、经验系数法、理论系数法、神经网络算法等客户可根据自已的要求进行二次开发，自行开发任意多个分析方法
11、设置了自动安全防护开关，以确保用户安全使用。
更多访问：
http://www.delptek.net/delptek88-Products-22172232/ 
https://www.chem17.com/st221123/product_22172232.html