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VIEW MicroLine 300影像测量仪 MicroLine-300是一款桌上型半自动CD测量系统。主要技术参数:◆测量范围(XYZ):标准:200×200×25mm;可选:300x300x25◆
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2021-05-31 |
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VIEW Benchmark300 影像测量仪 XYZ测量行程:300x300x150 mm/ 300x300x200 mm承载力:30 kg光学镜头:单放大倍率,固定倍率固定镜头光学与工厂可配置
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2021-05-31 |
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Summit 450/600/800影像测量仪 Summit450/600/800 参数介绍:XY 精度: E2=(2.0+4L/1000)um(E2=(1.5+5L/1000)um 高分辨率刻度尺)Z 线性精度: E1=(1.8+5L/1000)um
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2021-05-31 |
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view benchmark 250 全自动影像测量仪 BenchMark 250 主要技术参数XY 精度:E2=(1.8+6L/1000)微米(E2=(1.0+6L/1000)微米 需高分辨率光栅尺)Z精度:E1=(2.0+5L/1000)微米(
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2021-05-31 |
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VIEW BenchMark 450影像测量仪 BenchMark 450 主要技术参数XY 精度:E2=(2.5+5L/1000)微米 Z 精度:E1=(2.0+8L/1000)微米 ( 带TTL激光和可选5倍镜头)英制单位公
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Pinnacle+Plus高精度的尺寸测量系统 VIEW Pinnacle+Plus将Pinnacle的性能提升到了下一个等级Pinnacle+Plus拥有坚硬的花岗岩支撑结构和高性能的Z轴移动组件,使测量微
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2021-05-31 |
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VIEW Benchmark 624影像测量仪 VIEW Benchmark 624是QVI旗下一款大容量式全自动三轴尺寸测量系统.VIEW Benchmark 624的移动桥式结构和光学可使被测组件始终保持
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2021-05-31 |
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VIEW Benchmark XLT大尺寸平台测量仪 X,Y,Z行程(mm)900 x 1500 x 1501250 x 1500 x 1501500 x 1500 x 1501250 x 2000 x 1501500 x 2000 x 150Y-axis - 2000 mmZ-axis
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